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小角X射线散射-个人观点

小角X射线散射-个人观点

1:小角X射线散射(Small Angle X-Ray Scattering, SAXS)

是研究纳米尺度微结构的重要手段。

根据SAXS理论，只要体系内存在电子密度不均匀(微结构，或散射体)，就会在入射X光束附近的小角度范围内产生相干散射，通过对小角X射线散射图或散射曲线的计算和分析即可推导出微结构的形状、 大小、分布及含量等信息。这些微结构可以是孔洞、粒子、缺陷、材料中的晶粒、非晶粒子结构等。

适用的样品可以是气体、液体、 固体。

由于X射线具有穿透性，SAXS信号是样品表面和内部众多散射体的统计结果。相对于其它纳米尺度分析表征手段，如SEM、TEM、AFM而言，SAXS具有结果有统计性、测试快速、无损分析、制样简单、适用范围广等优点。 对于各向同性体系分析起来没多大困难，但是需要进行各种校正，不校正结果会较差。对于择优取向体系SAXS分析起来还是一个世界性难题。两千零几年本.zhu有一篇文章就专门提到这个问题，说择优取向体系计算得到的结果非常不可靠，所以他干脆不分析，stribeck也提出同样的问题，他说:“在面对各向异性体系的时候我们就像科学家在1931年面对各向同性体系时一样。”现在很多人在做SAXS都只是在做小角度的衍射分析，也就是低角度衍射峰位置的分析，而不是真正的散射分析。可以这么说，散射普遍存在，衍射只在满足布拉格方程时才出现。 可以参考以下书籍 ——————————————————————————————————————

孟昭富. 小角X射线散射理论及应用. 1995.

O Glatter OK. Small angle x-ray scattering. 1982.

小角X射线散射——理论、测试、计算及应用，朱育平，2008