安科笔记本品质检验标准.pdf

文件编号： AK-CPBZ-13001 安科笔记本品质检验标准 版 本： A0 生效日期： 2013-12-12 变 更 历 史 记 录

变更次数 变 更 内 容 变更人 变更日期 □ 总经理 □ 管理者代表 □ 销售部 □ 研发部

分发部门 □ 采购部 □ 品质部 □ □ 会签部门 会签栏 会签人员 会签日期 拟 制 审 核 批 准 深圳安科科技有限公司 数码产品事业部

一 目的

为保证安科笔记本产品的整体品质， 特制定笔记本品质检验标准 （功能, 外观以及可靠性） ，

为公司研发设计，物料采购，生产制造，客户服务和顾客确认各环节提供检验和评价的依

据。

二 范围

2.1 本标准适用于安科所有的笔记本产品，

2.2 产品特殊标准或者顾客特殊要求将以各机型的附加标准为准

三 定义

3.1 面的定义

A 面：指机台上方 (LCD后盖 ) 、打开 LCD部份 ( 不包括 LCD面 ) 。

B 面：指机台四周 ( 不包括正前面，包括电池部分面 ) 。

C 面：指机台底部（包括电池部分面）

X 面：特指 LCD PANEL面 B X A B A B A C A

3.2 不合格等级的定义 严重缺点（ CRITICAL DEFECT，简称“ CRI”类缺点）：不符合安全，环境规定及产品销 售地区的其他政府相关法令。 主要缺点（ MAJOR DEFECT，简称“MAJ”类缺点）：为电气功能或者机构不符合检验标准 规定， 次要缺点（ MINOR DEFECT，简称” MIN”）：外观不符合或者其他轻微功能问题； 抽样规则请以各检验文件的要求为准。

3.3 缺点类型定义